测厚仪原理 不同种类测厚仪介绍

这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。我们今天主要为大家介绍的是激光测厚仪和X射线测厚仪。并且为大家讲解 测厚仪原理。 【激光测厚仪和X射线测厚仪的区别】 激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。 【测厚仪原理】 纸张测厚仪：比较适合4mm以下的各种比较薄的片状材料厚度的测量。 超声波测厚仪：超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头，产生超声发射脉冲波，脉冲波经介质接口反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示厚度数值，它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。 我厂经营的HT系列超志波测厚仪，在采用国内外先进技术的基础上，运用单片机技术研制 的一种低功耗低下限袖珍式的智能测量仪器，不仅有测量不同材质厚度的仪器，而且有单测钢，超薄型的，同时均可配套高温测厚探头。 激光测厚仪：是一种非接触式测厚仪，两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内LPM30C激光测厚原理，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化。激光测厚仪能直接输出信号和工业计算机连接，快速处理数据和输出偏差值。激光测厚仪是用激光检测技术和防护措施，适合温度较高的物体测量厚度的要求。其检测系统具有成本低、无辐射、便于维护等优点。 小编结语：以上为大家介绍了 测厚仪原理，希望对大家有所帮助。如需了解更多相关知识，请继续关注齐家网资讯平台。后续将为大家呈上更多精彩内容。